飛納電鏡彩色成像，給你的掃描電鏡來點“顏色”看看

隨著工業生產日益復雜和產品標準不斷提高，部件的質量控制和生產速度變得越來越重要。對于實驗室和質量管理負責人而言，往往需要在技術人員較少、時間有限的情況下提供分析結果。目前，標準的行業解決方案是將用于獲取結構信息的掃描電子顯微鏡（SEM）與能量色散 X 射線光譜（EDS）探測器相結合，進行樣品的化學元素分析表征。

EDS 提供的元素信息可以給質量分析提供指導方向，然而將掃描電鏡（SEM）與 EDS 割裂為兩個獨立的設備會導致用戶體驗不夠友好。比如：需要不斷地在高低倍數間切換來完成樣品尋找和成像；需要在兩個系統間不斷進行數據同步和關聯；獨立的硬件和軟件需求會導致兼容性問題和維護困難；數據分析可能會很麻煩并且需要很長時間；操作人員需要更長時間的專門培訓。

飛納電鏡推出的 ChemiSEM 技術，將掃描電鏡（SEM）形貌觀察與 EDS 成分分析相結合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與掃描電鏡（SEM）圖像的實時疊加，在成像同時提供高質量的成分定性定量信息。

ChemiSEM 分析技術在易用性、便利性和速度上的提升，可以更快、更輕松地提供元素信息，降低每個樣品分析測試的成本，更好地服務于質量分析過程。

對于您的實驗室

ChemiSEM 提供了一個簡單易行的解決方案，易于安裝和使用，始終處于開啟狀態，并且能夠在最少的訓練和培訓下提供可靠的結果。

對于您的團隊

ChemiSEM 延長了設備有效機時，增加了樣品吞吐量，從而提高了材料分析的質量和數量。

PART.01 實時分析獲取更深層的信息

所有的 SEM-EDS 分析本質上都是復雜的，對于產品故障分析和污染物識別等應用，研發需要不斷改進質量控制（QC）和故障分析（FA）流程，以更好地解決出現的問題。

ChemiSEM 技術的實時分析在質量控制和生產效率提升方面提供了優勢。它的 EDS 集成在儀器中，并在電鏡工作時始終在后臺收集成分數據，逐步建立樣品更全面和詳細的信息，幫助您更快地定位到關鍵質量問題

PART.02 實時定量面掃：不再有分析干擾

傳統的元素分析中，復雜樣品元素分布和相分布面掃并不能及時得到精確的結果。例如，一個峰的信號有時會被識別為兩個元素，產生錯誤，干擾樣品QC 問題的判斷。

憑借創新的算法和智能光譜擬合，ChemiSEM 技術可以幫助您的實驗室團隊實現準確的元素識別和量化——即使在處理多個重疊元素時也是如此。

ChemiSEM 定量面掃

ChemiSEM 技術自動處理原始信號，生成定量面掃結果。數據被很好地解析，能夠有效避免和峰和重疊峰的影響。并且同時處理 BSE（背散射電子）和 EDS 信號，從而可以實時顯示樣品的形態和元素定量結果。

PART.03 無偏差相分析

傳統的相分析高度依賴于對樣品的假設，當存在譜峰重疊或強度不足而遺漏了元素時，這可能會是一個問題。

有了 ChemiPhase（ChemiSEM 技術中的一項新功能）后，可以避免這種情況。復雜樣品的分析能夠做到無偏差，可以基于數據單元中所有光譜結果，系統地識別每個獨立的相。隨后，數據分析可以在沒有任何元素預定義的情況下自動運行，無需豐富經驗即可定位次要/微量元素，明確識別主要和次要成分，完成更深入、更全面的分析。

地質切片分析

使用 ChemiPhase 對地質切片的分析，每個相的能譜成分被自動提取和計算，可以將不同礦物相有效區分。

PART.04 自動樣品漂移校正

成分分析過程中，準確和有效的定量結果需要一個正確且穩定的樣品位置信息。

通常在圖像漂移的情況下，研究人員需要多次重新獲取分析數據，或者等待樣品停止漂移后再獲取數據，這兩種方式都會降低測試效率。

通過不斷監控樣品位置，ChemiSEM 軟件提供自動樣品漂移校正，使高倍率操作和較長時間的能譜采集成為可能。幫助大家節省寶貴的時間和精力，專注于更重要的事情：盡快獲取最高質量的數據。

簡而言之，ChemiSEM 技術提供高質量的分析結果。它在大量的操作參數范圍內進行了優化，即使在存在多個重疊峰的情況下也能提供可靠的數據結果。智能光譜擬合根據精確的參數設置自動驗證元素，為獲得的結果提供保證。