LiteScope AFM-SEM
同步聯用技術
在微觀世界的探索中，原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子顯微鏡(SEM)一直是科學家們重要的工具。然而，傳統技術中兩者往往獨立運行，難以在同一時間、同一點位對樣品進行綜合分析。如今，LiteScope AFM-SEM 同步聯用技術(通用版)以創新，成功打破了這一局限，為微觀研究帶來了全新的視角和可能性。
01.革命性的同步聯用技術
LiteScope AFM-SEM 同步聯用技術的核心在于其特殊的同步聯用設計。它將 AFM 的高分辨率表面形貌分析能力與 SEM 的*成像功能美結合，實現了在 SEM 內部原位條件下對樣品的同步分析。這種設計不僅確保了樣品分析的同步性、同地性和同條件性，還通過 SEM 畫面實時觀測探針與樣品的相對位置，為探針提供導航，實現了對感興趣區域的精準定位。無論是復雜的樣品結構，還是對精度要求很高的研究，LiteScope 都能輕松應對。
02.
兼容主流電鏡品牌，也支持定制化服務
LiteScope AFM-SEM 同步聯用技術(通用版)，兼容賽默飛世爾、TESCAN、蔡司、日立、JEOL 等主流品牌 SEM系統及其配件，其他品牌電鏡亦可定制適配。這種廣泛的兼容性和定制化服務，使得 LiteScope 能夠滿足不同用戶的需求，輕松集成到現有的實驗室設備中。
LiteScope
原位樣品表征
03.
精準定位與高分辨率成像
在樣品分析中，精準定位是獲取可靠數據的關鍵。LiteScope 利用 SEM 導航 AFM 尖端到感興趣區域，實現了快速且精準的定位。通過在樣品上保持電子束指向 AFM 尖端附近，并保持恒定偏移，兩個顯微鏡的數據可以在同一時間、同一地點和相同條件下獲取。這種設計不僅保證了數據的同步性，還實現了高分辨率的成像效果。
04.
融合優勢，拓展應用邊界
AFM 與 SEM 作為亞納米級樣品分析中應用廣泛且互補的兩大技術，其融合帶來的優勢不言而喻。LiteScope 通過將 AFM 集成至 SEM 中，不僅保留了兩者各自的優勢，還實現了超高效的工作流程，完成了傳統 AFM 和 SEM 難以或無法實現的極限性能和復雜樣品分析?？商峁C械、電氣、磁學、光譜等多種測量模式，且能同-位置直接聯用 SEM 及 EDS 功能，同時獲取 AFM 與 SEM 數據，并將其無縫關聯。這種多模態的分析能力，為材料科學、納米技術、半導體、太陽能電池開發、生命科學等研究領域及工業應用提供了更好的分析可能性。
05.
先進的 CPEM+ 技術與高效工作流程
LiteScope 采用了尖端的相關探針和電子顯微鏡(CPEM)技術，這種硬件相關技術使得 SEM 和 AFM 數據能夠同時獲取，并自動無縫相關用戶可以同時進行 AFM 和 SEM 數據的多通道采集，實現圖像相關性精度。探針自動調優和人工智能驅動的數據處理和校正技術，進一步提升了工作效率，使得整個工作流程更加快速和平滑。這種高效的工作方式，不僅節省了時間，還提高了數據的準確性和可靠性。
06.
豐富的應用領域與優勢
• 在材料科學中，它可以對 1D/2D 材料、鋼鐵和金屬合金、電池、陶瓷、聚合物和復合材料等進行深入分析
• 在納米結構研究中，FIB/GIS 改性表面、量子點、納米結構薄膜、納米圖案、納米線等都是其研究對象
• 在半導體領域，集成電路、太陽能電池、失效分析、摻雜可視化、電流泄漏定位等應用都能從中受益
• 在生命科學領域，細胞生物學、海洋生物學、蛋白質技術等研究也能借助 LiteScope 獲得更深入的洞察。
07.
豐富靈活的選配功能
LiteScope 還提供了豐富的選配件，如納米壓痕模塊、NenoCase 與數碼相機、樣品旋轉模塊等，進一步拓展了其應用范圍和靈活性。
納米壓痕模塊：能夠在使用超高倍數掃描電子顯微鏡觀察樣品的同時進行微機械實驗，并利用 LiteScope 以亞納米級分辨率對壓痕樣品進行分析。
NenoCase 與數碼相機：在環境條件或不同氣氛下將 LiteScope 作為獨立 AFM 使用，通過數碼相機精確導航探針。
樣品旋轉模塊：適用于 FIB 后進行 AFM 分析。此外還允許同時安裝多個樣品實現在不打開 SEM 腔室的情況下即可對多個樣品進行測試。
LiteScope AFM-SEM 同步聯用技術以其革命性的同步聯用設計、融合優勢、先進的 CPEM+ 技術、精準定位與高分辨率成像能力、豐富的應用領域與優勢、*的軟件支持與靈活的選配件，以及兼容主流電鏡品牌的特性，為微觀世界的探索帶來了一場技術革命。
它不僅提高了分析效率，降低了成本，還為科學研究和工業應用提供了更深入、更全面的分析手段。無論是在材料科學、納米技術、半導體、太陽能電池開發，還是在生命科學等領域，LiteScope 都將成為研究人員和工程師們重要的得力助手，助力在微觀世界中取得更多的突破和發現。如您對此解決方案感興趣，歡迎咨詢我們。
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