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隨著電子顯微技術的不斷進步，如何高效、精確地制備高質量的薄片已成為材料科學和納米技術領域的重要議題。作為一種常用的薄片制備方法，聚焦離子束（FIB）技術雖被廣泛應用，但在使用過程中會涉及到高能離子及 Ga 的使用，這可能引入不必要的離子注入。為了克服這一局限性，寬離子束（BIB）技術逐漸受到關注，并展現出其在降低損傷、提高樣品質量方面的優勢。
為了更好地理解和應用 BIB 技術，我們誠摯邀請您參加本次專題研討會。
Part.1.會議詳情
會議時間
2025 年 10 月 17 日（周五）10:00-12:00
參與方式
線上參會
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